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1. 在測容性負載阻值時(shí)，直流電阻測試儀輸出短路電流大小與測量數據有什么關(guān)系，為什么?
　　直流電阻測試儀輸出短路電流的大小可反映出該兆歐表內部輸出高壓源內阻的大小。當被測試品存在電容量時(shí)，在測試過(guò)程的開(kāi)始階段，直流電阻測試儀內的高壓源要通過(guò)其內阻向該電容充電，并逐步將電壓充到直流電阻測試儀的輸出額定高壓值。顯然，如果試品的電容量值很大，或高壓源內阻很大，這一充電過(guò)程的耗時(shí)就會(huì )加長(cháng)。其長(cháng)度可由R內和C負載的乘積決定（單位為秒）。請注意，給電容充電的電流與被測試品絕緣電阻上流過(guò)的電流，在測試中是一起流入直流電阻測試儀內的。直流電阻測試儀測得的電流不僅有絕緣電阻上的分量，也加入了電容充電電流分量，這時(shí)測得的阻值將偏小。
　　如：額定電壓為5000V的直流電阻測試儀，若其短路輸出電流為80μA(日本共立產(chǎn))，其內阻為5000V/80μA＝62MΩ
　　如：試品容量為0.15μF，則時(shí)間常數τ=62MΩ×0.15μF≈9 (秒)即在18秒時(shí)刻，電容上的充電電流仍有11.3μA。
　　由此可見(jiàn)，僅由充電電流而形成的等效電阻為5000V/11.3μA＝442MΩ,若正常絕緣為1000MΩ，則顯示的測得絕緣值僅為306MΩ。這種試值已不能反映絕緣值的真實(shí)狀況了，而且試值主要是隨容性負載容量的變化而改變，即容量小，測試阻值大；容量大，測試阻值小。
　　所以，為保障準確測得R15s，R60s的試值，應選用充電速度快的大容量直流電阻測試儀。我國的相關(guān)規程要求直流電阻測試儀輸出短路電流應大于0.5mA、1 mA、2 mA、5 mA，要求高的場(chǎng)合應盡量選擇輸出短路電流較大的直流電阻測試儀。
2. 為什么測絕緣時(shí)，不但要求測單純的阻值，而且還要求測吸收比，極化指數，有什么意義？
　　在絕緣測試中，某一個(gè)時(shí)刻的絕緣電阻值是不能全面反映試品絕緣性能的優(yōu)劣的，這是由于以下兩方面原因，一方面，同樣性能的絕緣材料，體積大時(shí)呈現的絕緣電阻小，體積小時(shí)呈現的絕緣電阻大。 另一方面，絕緣材料在加上高壓后均存在對電荷的吸收比過(guò)程和極化過(guò)程。 所以，電力系統要求在主變壓器、電纜、電機等許多場(chǎng)合的絕緣測試中應測量吸收比-即R60s和R15s的比值，和極化指數-即R10min和R1min 比值，并以此數據來(lái)判定絕緣狀況的優(yōu)劣。
3． 在高壓高阻的測試環(huán)境中，為什么要求儀表接"G"端連線(xiàn)？
　　在被測試品兩端加上較高的額定電壓，且絕緣阻值較高時(shí)，被測試品表面受潮濕，污染引起的泄漏較大，示值誤差就大，而儀表"G"端是將被測試品表面泄漏的電流旁路，使泄漏電流不經(jīng)過(guò)儀表的測試回路，消除泄漏電流引起的誤差。
4．在校測某些型號絕緣儀表"L"、"E"兩端額定輸出直流高壓時(shí)，用指針式萬(wàn)用表DCV檔測L、E兩端電壓，為什么電壓會(huì )跌落很多，而數字式萬(wàn)用表則不會(huì )？
　　用普通的指針式萬(wàn)用表直接在直流電阻測試儀"L"、"E"兩端測量其輸出的額定直流電壓，測量結果與標稱(chēng)的額定電壓值要小很多（超出誤差范圍），而用數字萬(wàn)用表則不會(huì )。這是因為指針式萬(wàn)用表內阻較小，而數字萬(wàn)用表內阻相對較大。指針式萬(wàn)用表內阻較小，直流電阻測試儀L-E端輸出電壓降低很多，不是正常工作時(shí)的輸出電壓。但是，用萬(wàn)用表直接去測直流電阻測試儀的輸出電壓是錯誤的，應當用內阻阻抗較大的靜電高壓表或用分壓器等負載電阻足夠大的方式去測量。
5．能不能用兆歐表直接測帶電的被測試品，結果有什么影響，為什么？
　　為了人身安全和正常測試，原則上是不允許測量帶電的被測試品，若要測量帶電被測試品，不會(huì )對儀表造成損壞（短時(shí)間內），但測試結果是不準確的，因為帶電后，被測試品便與其它試品連結在一起，所以得出的結果不能真實(shí)的反映實(shí)際數據，而是與其它試品一起的并聯(lián)或串聯(lián)阻值