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直流耐壓試驗程序

耐受電壓試驗

對試品施加電壓時(shí)應從足夠低的數值開(kāi)始，以防止瞬變過(guò)程引起的過(guò)電壓的影響；然后應緩慢地升高電壓，以便能在儀表上準確讀數，但也不應太慢,以免試品在接近試驗電壓U時(shí)耐壓的時(shí)間過(guò)長(cháng)。如果當電壓高于75%U時(shí)以2%U/s的速率上升，通常能滿(mǎn)足上述要求。

將試驗電壓值保持規定的時(shí)間后，通過(guò)適當的電阻使回路電容(包括試品電容)放電來(lái)降低電。耐受電壓的持續時(shí)間應由有關(guān)技術(shù)委員會(huì )根據試品的電阻和電容決定的達到穩態(tài)電壓分布的時(shí)間來(lái)確定。

若有關(guān)技術(shù)委員會(huì )沒(méi)有規定，則耐受電壓試驗持續時(shí)間為60s。電壓的極性或每種極性電壓的施加次序，以及任何不同于上述規定的要求應由有關(guān)技術(shù)委員會(huì )規定。

如果試品上沒(méi)有破壞性放電發(fā)生，則滿(mǎn)足耐受試驗要求。

破壞性放電電壓試驗

在試品上施加電壓并連續升壓(同耐受電壓試驗)直至試品上發(fā)生破壞性放電。應記錄破壞性放電發(fā)生瞬間的最后電壓值。該試驗應重復"次,以得到一組"個(gè)電壓測量值。有關(guān)技術(shù)委員會(huì )規定升壓速度、施加電壓次數和評估試驗結果的方法。

確保破壞性放電電壓試驗

在試品上施加電壓并連續升壓(同耐受電壓試驗)直至試品上發(fā)生破壞性放電。應記錄破壞性放電發(fā)生瞬間前的最后電樂(lè )值。該試驗需重復"次，以得到一組"個(gè)電壓測量值。如果在該組電壓中沒(méi)有一個(gè)電壓高于確保破壞性放電電壓，則認為滿(mǎn)足試驗要求有關(guān)技術(shù)委員會(huì )應規定施加電壓的次數和升生速度。